Publikace 2010

Flodrová, Eva ; Neděla, Vilém. Study of intestinal mucosa in high pressure conditions of variable pressure SEM. In Frank, L.; Hozák, P. (ed.). Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě : Československá mikroskopická společnost, 2010, s. 33. ISBN N. [Mikroskopie 2010, Nové Město na Moravě, 17.02.2010-18.02.2010, CZ].

Jirák, Josef ; Čudek, P. ; Neděla, Vilém. Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes. In Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, i10.14: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2. [International Microscopy Congress (IMC17) /17./, Rio de Janeiro, 19.09.2010-24.09.2010, BR].

Jirák, Josef. ; Neděla, Vilém. ; Černoch, P. ; Čudek, P. ; Runštuk, Jiří. Scintillation SE detector for variable pressure scanning electron microscopes. Journal of Microscopy2010, roč. 239, č. 3, s. 233-238. ISSN 0022-2720.

Maxa, J. ; Neděla, Vilém. Use of electronics product definition for the development of differentially pumped chamber. In EDS’10 – Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2010 - Proceedings. Brno : Vysoké učení technické v Brně, 2010, s. 215-223. ISBN 978-80-214-4138-5. [EDS '10 - Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference, Brno, 01.09.2010-02.09.2010, CZ].

Neděla, Vilém ; Konvalina, Ivo ; Lencová, B. ; Zlámal, J. Comparison of calculated, simulated and measured signal amplification in variable pressure SEM. In Eighth International Conference on Charged Particle Optics CPO-8. Singapore : National University of Singapore, 2010. s. 81-82.

Neděla, Vilém. Controlled dehydration of a biological sample using an alternative form of environmental SEM. Journal of Microscopy2010, roč. 237, č. 1, s. 7-11. ISSN 0022-2720.

Neděla, Vilém ; Bařinka, R. ; Hladík, V. ; Flodrová, Eva. Investigation of solar cell structures after laser beam processing. In Focus on Microscopy – FOM 2010. Shanghai : Shanghai Jiao Tong University, 2010. s. 225.

Neděla, Vilém ; Jirák, Josef. Newly Designed Ionisation Secondary Electron Detector with Electrostatic Separators for VP-ESEM. In Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010, i10.9: 1-2. ISBN 978-85-63273-06-2. [International Microscopy Congress (IMC17) /17./, Rio de Janeiro, 19.09.2010-24.09.2010, BR].

Neděla, Vilém ; Krejčí, J. ; Sajdlová, Z. ; Flodrová, Eva. Study of surfaces of electrochemical sensors using optical and scanning electron microscopy. In Focus on Microscopy – FOM 2010. Shanghai : Shanghai Jiao Tong University, 2010. s. 226.