2022

Neděla, V.; Tihlaříková, E.; Martinů, P.; Macálka, A. Prototyp řídicí elektroniky pro chlazený držák vzorku. 2022.

Neděla, V.; Jirák, J. Epoxidový předplněný zalévací systém se standardním stupněm nehořlavosti pro vnitřní použití s ověřenou technologií výroby. 2022.

Neděla, V.; Jirák, J. Epoxidový předplněný zalévací systém se zvýšeným stupněm nehořlavosti pro vnitřní použití s ověřenou technologií výroby. 2022.

Neděla, V.; Jirák, J. Epoxidový předplněný zalévací systém pro venkovní použití s ověřenou technologií výroby. 2022.

Neděla, V.; Jirák, J. Předplněný zalévací systém pro vnitřní použití na bázi “zelené” epoxidové pryskyřice s ověřenou technologií výroby. 2022.

Hradil, D.; Neděla, V.; Tihlaříková, E.; Hradilová, J. Aplikace environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (EREM) v oboru analýzy miniatur: metodika pro specifické použití ve výzkumu miniaturního malířství. Interní kód: 3/2022; 2022.

Neděla, V.; Vítámvás, P. Pokročilý hydratační systém pro EREM. Interní kód: APL-2020-02; 2020.

Neděla, V.; Tihlaříková, E.; Martinů, P.; Macálka, A. Prototyp nového chlazeného držáku vzorku s integrovaným vysoce účinným ionizačním detektorem signálních elektronů pro EREM. 2022.

Martinů, P.; Macálka, A.; Neděla, V.; Tihlaříková, E. Software pro optimalizaci termodynamických podmínek v komoře vzorku EREM. 2022
TDS software umožňuje simulaci termodynamických podmínek (tlak, teplota a vlhkost) v okolí pozorovaného vzorku s ohledem na typ (biologický, jíl, sklo, polymer a dřevo) a podmínky vzorku, parametry držáku (rovina, mistička) a nastavení mikroskopu, viz. Výsledky simulace umožní operátorovi EREM nastavit přesné hodnoty teploty, tlaku nebo vlhkosti, dle typu pozorování.

2019

Neděla, V.; Palupa, V.; Vítámvás, P.; Plachý, J. BSE detektor střední třídy pro zákaznický upgrade REM/EREM. Interní kód: APL-2019-02; 2019.

Neděla, V.; Palupa, V.; Vítámvás, P.; Plachý, J. Nový high-tech scintilačně-ionizační detektor pro REM/EREM nejvyšší třídy. Interní kód: APL-2019-01; 2019.

2018

Neděla, V.; Runštuk, J.; Vítámvás, P. Scintilačně fotonásobičová jednotka BSE detektoru střední třídy pro zákaznický upgrade REM/EREM. Interní kód: APL-2018-07; 2018.

Neděla, V.; Runštuk, J.; Tihlaříková, E.; Vítámvás, P. Scintilačně fotonásobičová jednotka BSE detektoru s lomenou geometrií světlovodu pro REM. Interní kód: APL-2018-03; 2018.

Neděla, V.; Runštuk, J.; Vítámvás, P.; Palupa, V. Nová scintilačně-ionizační fotonásobičová jednotka pro high-tech detektor REM/EREM nejvyšší třídy. Interní kód: APL-2018-04; 2018.

2013

Fořt, T.; Kučerová, R.; Neděla, V.; Krejčí, J. Funkční vzorek elektrochemických senzorů s deponovanou B-DLC vrstvou tlustou 885nm a obsahem boru 24hmotnostních procent. Interní kód: RIV 2013/FR-TI1/118/2; 2013.

Fořt, T.; Dupák, L.; Sobota, J.; Neděla, V.; Kapounek, P.; Dupák, J.; Krejčí, J. Replika nové naprašovací aparatury s vylepšenou funkčností pro depozici B-DLC vrstev. Interní kód: RIV 2013/FR-TI/118/1;2013.

2012

Fořt, T.; Kučerová, R.; Plička, R.; Neděla, V.; Rek, A.; Tihlaříková, E.; Krejčí, J. Funkční vzorek elektrochemického senzoru s pracovní elektrodou z různých kovů deponovanou DLC vrstvou a metodou termokomprese. Interní kód: UPT 2012/09; 2012.

Fořt, T.; Kučerová, R.; Neděla, V.; Rek, A.; Krejčí, J. Funkční vzorky elektrochemických senzorů s různou tloušťkou deponovaných B-DLC vrstev testovaných pro detekci těžkých kovů v roztoku. Interní kód: UPT 2012/07; 2012.

Fořt, T.; Sobota, J.; Neděla, V.; Dupák, L.; Kapounek, P.; Dupák, J. Nová naprašovací aparatura pro depozici B-DLC vrstev. Interní kód: UPT 2012/22; 2012.

Neděla, V.; Hanák, V.; Plička, R.; Krejčí, J. Přístroj na výrobu elektrod ve formě mikro disků z kovových folií. Interní kód: UPT 2012/21; 2012.

Sobota, J.; Kučerová, R.; Neděla, V.; Rek, A.; Tihlaříková, E.; Krejčí, J. Funkční vzorek leštěného elektrochemického senzoru s deponovanou DLC vrstvou. Interní kód: UPT 2012/16; 2012.

Sobota, J.; Kučerová, R.; Neděla, V.; Rek, A.; Krejčí, J. Funkční vzorek senzoru s deponovanou tlustou vrstvou C. Interní kód: UPT 2012/18; 2012.

2011

Neděla, V.; Jirák, J. Ionisation Detector for Environmental Scanning Microscope. Číslo patentu: EP2195822; 2011.

2010

Neděla, V.; Schauer, P.; Klein, P. Nový světlovod pro mikroskopy Hitachi. Interní kód: 201013; 2010.

2009

Klein, P.; Neděla, V. Nová výsuvná mechanika pro BSE-YAG/YAP detektor. Interní kód: HS-3; 2009.

2008

Neděla, V.; Jirák, J. Ionizační detektor environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu. Číslo patentu: 299864; 2008.

Runštuk, J.; Neděla, V. Komora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM. Interní kód: HS-1; 2008.

2007

Klein, P.; Neděla, V. BSE-YAG detektor pro mikroskop JEOL. Interní kód: HS-2; 2007.

Klein, P.; Neděla, V. Výsuvný systém mechaniky pro BSE-YAG detektor. Interní kód: HS-1; 2007.

Neděla, V. Diferenciálně čerpaná komora pro elektronový mikroskop. Interní kód: HS-1; 2007.

Neděla, V. Ionizační detektor sekundárních elektronů s elektrostatickým separátorem. Interní kód: 5811; 2007.

2005

Neděla, V. Hydratační systém pro nízkovakuové a environmentální rastrovací elektronové mikroskopy. Interní kód: HS-1; 2005.

2004

Neděla, V.; Autrata, R. Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II. Interní kód: AQUASEM; 2004.