Publikace 2018

Neděla, Vilém ; Tihlaříková, Eva ; Runštuk, Jiří ; Hudec, Jiří. High-efficiency detector of secondary and backscattered electrons for low-dose imaging in the ESEM, Ultramicroscopy. 2018, 184, s. 1-11. ISSN 0304-3991, doi:10.1016/j.ultramic.2017.08.003.